產(chǎn)品展示首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 電性能檢測(cè)儀器 > 介電常數(shù)測(cè)試儀 > GHJ-B薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱：薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：GHJ-B

產(chǎn)品報(bào)價(jià)：

產(chǎn)品特點(diǎn)：薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀系統(tǒng)由測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）自動(dòng)測(cè)量的解決方案。

GHJ-B薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀的詳細(xì)資料：

薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀由測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

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薄膜介質(zhì)損耗測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：

1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法


系統(tǒng)組成：

主機(jī)：高頻Q表

功能名稱：

GHJ-B

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)

100KHZ-160MHz

信號(hào)源頻率覆蓋比

16000:1

信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個(gè)字  

采樣精度

12BIT

高精度的AD采樣，保證了Q值的穩(wěn)定性，以及低介質(zhì)損耗材料測(cè)試時(shí)候的穩(wěn)定性

Q測(cè)量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測(cè)量工作誤差

<5%

電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測(cè)量誤差

<3%

調(diào)諧電容

主電容17-240pF

(一體鍍銀成型,精度高)

電容自動(dòng)搜索

是(帶步進(jìn)馬達(dá))

電容直接測(cè)量范圍

1pF～25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

Q合格預(yù)置范圍

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動(dòng)/手動(dòng)

LCD顯示參數(shù)

F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr

自身殘余電感和測(cè)試引線電感的
自動(dòng)扣除功能

有

大電容值直接測(cè)量顯示功能

測(cè)量值可達(dá)25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬(wàn)分之一

介電常數(shù)

精度 千分之一

材料測(cè)試厚度

0.1mm-10mm

介電常數(shù)

LCD直接顯示

介質(zhì)損耗系數(shù)

LCD直接顯示

（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

固體：材料測(cè)量直徑Φ38mm ；厚度可調(diào) ≥ 15mm

電感組：

電感No

電感量

準(zhǔn)確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數(shù)測(cè)試頻率



1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

注意: 可定制100MHz電感.

高頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:

絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹(shù)脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。


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